ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以在低溫下給樣品測(cè)試嗎?
日期:2022-03-25
問:ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以在低溫下給樣品測(cè)試嗎?
答:ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以搭載各品類PicoFemto原位樣品臺(tái),輕松完成加熱、拉伸、低溫、電學(xué)測(cè)試、光學(xué)測(cè)試等原位SEM測(cè)量功能,詳情請(qǐng)?jiān)兛头?/span>
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作者:澤攸科技