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原位掃描電鏡的工作原理

日期:2023-04-17

原位掃描電鏡是一種將材料或樣品放置在高真空或氣體環(huán)境下,利用掃描電子顯微鏡的技術(shù)進(jìn)行表面形貌和結(jié)構(gòu)特征的觀察的儀器。

其工作原理是通過在高真空或氣體環(huán)境下將樣品置于掃描電子顯微鏡的樣品臺上,利用電子束與樣品表面的相互作用來產(chǎn)生反射、散射和透射電子信號。這些信號被探測器接收并轉(zhuǎn)換成圖像,圖像經(jīng)過信號處理后可以顯示出樣品表面的形貌、晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)成分和成分分布等信息。

ZEM15原位拉伸-掃描電鏡

ZEM15原位拉伸-掃描電鏡

原位掃描電鏡可以實(shí)現(xiàn)在樣品表面進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察,同時(shí)也能夠進(jìn)行高分辨率的成像,可以顯示出材料的微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌的特征。此外,原位掃描電鏡還可以在不同溫度和氣氛下進(jìn)行觀察,以研究材料在不同條件下的表面形貌和結(jié)構(gòu)特征的變化,從而得到材料的熱力學(xué)和動(dòng)力學(xué)性質(zhì)等相關(guān)信息。

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掃描電鏡產(chǎn)品聯(lián)系方式


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作者:澤攸科技