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STM-TEM樣品桿每一個設(shè)計作品都舉世無雙

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PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)

日期:2019-09-27

原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)

         該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境(包括力、熱、光、電等),從而對材料或者器件等樣品實現(xiàn)多重激勵下的原位表征。
 

性能指標(biāo)
 

 透射電鏡指標(biāo):

● 兼容指定電鏡型號及極靴;

● 可選雙傾版本,雙傾電學(xué)測量樣品桿Y軸傾角±25°(同時受限于極靴間距);

 

電學(xué)測量指標(biāo):

● 包含一個電流電壓測試單元;

● 電流測量范圍:1 nA-30 mA,9個量程;

● 電流分辨率:優(yōu)于100 fA;

● 電壓輸出范圍:普通模式±10 V,高壓模式±150 V;

● 自動電流-電壓(I-V)測量、電流-時間(I-t)測量,自動保存。

 

掃描探針操縱指標(biāo):

● 粗調(diào)范圍:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;

● 細(xì)調(diào)范圍:XY方向18 um,Z方向1.5 um;

● 細(xì)調(diào)分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。

 

光纖指標(biāo):

● 多模光纖外徑250 um,保證電鏡系統(tǒng)真空指標(biāo);

● 可選光纖探針、平頭光纖;

● 配備快速SMA接頭、FC接頭;

 

加熱指標(biāo):

● 溫度范圍:室溫到1000 ℃;

● 溫度準(zhǔn)確度優(yōu)于 5% ;

● 溫度穩(wěn)定性:優(yōu)于±0.1 ℃。


產(chǎn)品特色

 可通過簡單更換MEMS芯片種類以及不同STM探針為樣品施加至多四種激勵,實現(xiàn)多種復(fù)雜的測試功能,完成以往無法實現(xiàn)的研究。

(1)高溫拉伸/壓縮(加熱芯片+電學(xué)STM探針);

(2)熱電子發(fā)射/場發(fā)射(加熱芯片+電學(xué)STM探針);

(3)三端器件測量(電學(xué)芯片+電學(xué)STM探針);

(4)電致發(fā)光現(xiàn)象研究(電學(xué)芯片+光學(xué)STM探針);

(5)光電現(xiàn)象研究(電學(xué)芯片+光學(xué)STM探針)。

 

          以上就澤攸科技PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)的介紹,關(guān)于整套系統(tǒng)價格請咨詢18817557412(微信同號)

          

原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)

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作者:小攸