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SEM納米探針臺

SEM納米探針臺產品實現(xiàn)了三維空間上的準確定位, 它具有分辨率高,尺寸緊湊,行程大,操作簡單,能在真空下使用等優(yōu)點,可應于SEM真空腔體內完成各種納米精度運動操作。

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    SEM納米探針臺產品實現(xiàn)了三維空間上的準確定位, 它具有分辨率高,尺寸緊湊,行程大,操作簡單,能在真空下使用等優(yōu)點,可應于SEM真空腔體內完成各種納米精度運動操作。

    SEM納米探針臺產品使用壓電陶瓷驅動,運無需潤滑,百分真空兼容,并可在很廣的溫度范圍內工作。運動分辨率達到納米級。步進和掃描雙模式工作,在宏觀行程范圍內達到亞納米分辨率的定位。

    三軸探針臺由三個單軸運動臺組合而成。一SEM腔體內可安裝多個三軸探針臺。平上可安裝電學探針、光纖探針、納米鑷子、金剛石納米力壓頭、顯微注射器等各類操縱和測量頭,實現(xiàn)微納操縱和測量的目的。

    產品應用

    單個探針指標

    外形尺寸:L48.6mm*W32.2mm*H43.6mm

    X/Y/Z軸行程:±10mm

    X/Y/Z軸速度:~3mm/s

    X/Y/Z軸運動分辨率:<0.5nm

    Z軸最大負載:270g

    標準配置包含:

    探針主體

    適配SEM/FIB的底座

    過真空法蘭

    探針控制器及控制手柄

    選配:

    低溫、高溫樣品臺

    光纖夾頭和光纖真空饋通

    EBIC套件

    產品特點

    結構緊湊,高剛性

    零間隙,高精度柔性鉸鏈導向系統(tǒng) 

    壓電陶瓷位移平臺具有超長使用壽命

    內部根據(jù)需求可增加位置反饋 

    應用:納米材料操縱、納米器件電學光電等物性測量、生物細胞DNA操作等

    適配SEM:日本電子、 日立、FEI、 TESCAN等

    SEM納米探針臺

    SEM納米探針臺

    應用案例

    電容樣品測試

    電容樣品測試

    碳纖維測試

    器件測試

    薄層材料測試

    以上就是澤攸科技對SEM納米探針臺的介紹,關于價格請咨詢15756003283(微信同號)

    澤攸SEM納米探針臺

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